EMI天線有哪兩類傳導(dǎo)性干擾因素
　　
　　EMI天線干擾可以來(lái)自某個(gè)不定向發(fā)射源以及某個(gè)無(wú)意形成的天線。傳導(dǎo)性EMI干擾也可以來(lái)自某個(gè)輻射EMI干擾源，或者由一些電路板組件引起。一旦您的電路板接收到傳導(dǎo)性干擾，它便駐入應(yīng)用電路的PCB線跡。常見(jiàn)的一些輻射EMI干擾源包括以前文章中談及的組件，以及板上開(kāi)關(guān)式電源、連接線和開(kāi)關(guān)或者時(shí)鐘網(wǎng)絡(luò)。
　　
　　傳導(dǎo)性EMI天線干擾是開(kāi)關(guān)電路正常工作與寄生電容和電感共同作用產(chǎn)生的結(jié)果。圖1顯示了一些會(huì)進(jìn)入到您的PCB線跡中的EMI干擾源情況。Vemi1源自開(kāi)關(guān)網(wǎng)絡(luò)，例如：時(shí)鐘信號(hào)或者數(shù)字信號(hào)線跡等。這些干擾源的耦合方式均為通過(guò)線跡之間的寄生電容。這些信號(hào)將電流尖脈沖帶入鄰近PCB線跡。同樣，Vemi2源自開(kāi)關(guān)網(wǎng)絡(luò)，或者來(lái)自PCB上的某個(gè)天線。這些干擾源的耦合方式均為通過(guò)線跡之間的寄生電感。該信號(hào)將電壓擾動(dòng)帶入鄰近PCB線跡。每三個(gè)EMI天線源來(lái)自于線纜內(nèi)相鄰的導(dǎo)線。沿這些導(dǎo)線傳播的信號(hào)可產(chǎn)生串?dāng)_效應(yīng)。
　　
　　開(kāi)關(guān)式電源產(chǎn)生信號(hào)。開(kāi)關(guān)式電源產(chǎn)生的干擾駐存在電源線跡上，并以信號(hào)的形式出現(xiàn)。
　　
　　在正常運(yùn)行期間，開(kāi)關(guān)式電源(SMPS)電路為傳導(dǎo)性EMI天線的形成帶來(lái)機(jī)會(huì)。這些電源內(nèi)的“開(kāi)”和“關(guān)”切換操作，會(huì)產(chǎn)生較強(qiáng)的非連續(xù)性電流。這些非連續(xù)性電流存在于降壓轉(zhuǎn)換器的輸入端、升壓轉(zhuǎn)換器的輸出端，以及反激和降升壓拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)的輸入和輸出端。開(kāi)關(guān)動(dòng)作引起的非連續(xù)性電流會(huì)產(chǎn)生電壓紋波，其通過(guò)PCB線跡傳播至系統(tǒng)的其它部分。
　　
　　EMI天線共有兩類傳導(dǎo)性干擾：差模干擾和共模干擾。差模干擾信號(hào)出現(xiàn)在電路輸入端之間，例如：信號(hào)和接地等。電流流經(jīng)同相的兩個(gè)輸入端。但是，1號(hào)電流輸入大小與2號(hào)相等，但方向相反（差動(dòng)參考）。這兩個(gè)輸入端的負(fù)載，形成一個(gè)隨電流強(qiáng)弱變化的電壓。線跡1和差分基準(zhǔn)之間的這種電壓變化，在系統(tǒng)中形成干擾或者通信誤差。
　　
　　在您向電路添加一個(gè)接地環(huán)路或者不良電流通路時(shí)，便出現(xiàn)共模干擾。如果存在某個(gè)干擾源，則線跡1和線跡2上形成共模電流和共模電壓，而接地環(huán)路充當(dāng)一個(gè)共模干擾源。差模干擾和共模干擾都要求使用特殊的濾波器，來(lái)應(yīng)對(duì)EMI干擾的不利影響。