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LANGER EMV-Technik SX近場探頭組專門為近場測試設計的探頭，電磁兼容工程師*的基本工具，用于在產品開發(fā)期間探測PCB的電磁場情況

電磁干擾發(fā)射探頭P600 / P750 set 的測量結果保證了測量結果的高重復性和可比性?？梢允褂肅hipScan-ESA軟件進行測量。所有被測引腳的測量結果通過軟件保存。它允許系統地和快速地比較和分析測量數據。

電磁干擾發(fā)射探頭S603 / S750 set 的測量結果保證了測量結果的高重復性和可比性?？梢允褂肅hipScan-ESA軟件進行測量。所有被測引腳的測量結果通過軟件保存。它允許系統地和快速地比較和分析測量數據。

電磁干擾發(fā)射探頭組P603 / P750 set ，該探頭組能夠接觸到測試IC的每個引腳。 該探頭套組能夠確保較高的測量重復精度和測量的可比較性。

電磁干擾發(fā)射探頭組P603-1 / P750 set,基于IEC61967-4標準的傳導發(fā)射測量,該探頭套組用于測量IC引腳的傳導發(fā)射（采用1歐姆/150歐姆直接耦合進行測量）。